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X荧光光谱仪 镀层厚度材料分析
X荧光光谱仪 镀层厚度材料分析
产品概述:
X荧光光谱仪 镀层厚度材料分析产品名称及机型指标介绍: 产品名称及型号:(Element)能量色散X射线荧光光谱仪-------EDX 2800B 型EDX 2800B型(外壳颜色变换中,以发货为准)工作条件:● 工作温度:15-…
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详细介绍

X荧光光谱仪 镀层厚度材料分析 

X荧光光谱仪 镀层厚度材料分析

产品名称及机型指标介绍:

产品名称及型号:Element)能量色散X射线荧光光谱仪-------EDX 2800B 型

EDX 2800B型 (外壳颜色变换中,以发货为准)

工作条件

● 工作温度:15-30℃

● 相对湿度:40%~50%   

● 电    源:AC :220V ±5V

X荧光光谱仪 镀层厚度材料分析

技术性能及指标:

元素分析范围从硫(S)到铀(U);

元素含量分析范围为1 PPm到99.99%;

测量时间:100-300秒;

RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)其检测达1PPM;   

能量分辨率为149±5电子伏特;

温度适应范围为15℃至30℃;

电源:交流220V±5V;(建议配置交流净化稳压电源。)

产品特点

EDX 2800B是针对ROHS、EN71等环保指令设计的一款产品。

采用流线体的整体化设计,仪器时尚大方。

采用探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低。

采用SES信号处理系统,有效提高测量的灵敏度。

一键自动测试,使用简单,方便,人性化。

七种光路校正准直系统,根据不同样品自动切换。

多重防辐射泄露设计,辐射防护。

一体化散热设计,使整机散热性能得到提高,部件的运行安全。

机芯温控,保证X射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本。

多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作稳定、安全。

ROHS测试软件,标准视窗设计,界面友好,操作方便。

本机采用USB2.0接口,有效地保证了数据高速有效的传输。

X荧光光谱仪 镀层厚度材料分析

仪器硬件部分主要配置                                                                            

  Si-pin电制冷半导体探测器:                       

Si-pin电制冷半导体探测器;分辨率:149±5电子伏特

放大电路模块:对样品特征X射线进行探测;把探测的信息,进一步放大。

X射线激发装置:                             

灯丝电流大输出:1mA;

属于半损耗型部件,50W,空冷。

高压发射装置:

电压输出: 50kV;

5kv可控调节

自带电压过载保护

多道分析器:                      

将模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。

道数: 2048;

包含信号增强处理

光路过滤模块

降低X射线光路发送过程中的干扰,保证探测器接收信号准确。

将准直器与滤光处整合;

准直器自动切换模块

多达8种选择,口径分别为8#, 6#, 4#, 3#,2#, 1#, 0.5#,0.2#。

滤光片自动切换模块

     六种滤光片的自由选择和切换。

工作曲线自动选择模块

自动选择工作曲线,摒弃手动选择,避免人为操作失误,使操作更人性,更方便。

软件XRAYAnalyzer

软件简介

X荧光光谱仪 镀层厚度材料分析

针对ROHS检测而开发,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。

样品配置                                     

标准样品用于制作工作曲线

样品腔              

开放式大样品腔    

标样                                          

欧盟标样EC681K                   

纯银样品     

  

产品保修及售后服务  

对客户方操作人员免费进行培训。

安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。

正常使用,经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障,且未经拆修,仪器自验收合格之日起保修一年。

产品终身维修。(客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证,发票和保修卡等)

免费提供软件升级;

提供有效的技术服务,在接到用户故障信息后,3小时内响应,如有需要,48小时内派人上门维修和排除故障。

下一个:垂直度仪
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